Elektronový mikroskop

Laboratoř je vybavena skenovacím elektronovým mikroskopem, jehož komora pochází ze starého modelu mikroskopu CamScan S4. Veškerá elektronová optika, detektory, elektronika i ovládání jsou pak od firmy Tescan a jsou ekvivalentní modelu skenovacího elektronového mikroskopu Tescan Vega. Mikroskop je vybaven novými detektory sekundárních elektronů (SE), zpět odražených elektronů (BSE) a katodoluminiscence (CL). Zachování původní rozměrné komory dovoluje studium objektů i o relativně velkých rozměrech.

Detektor sekundárních elektronů (SE, secondary electrons)

Pomocí detektoru sekundárních elektronů jsme schopni pozorovat povrch vzorku ve velkém detailu (maximální zvětšení při vhodných podmínkách přesahuje 20 000 x). Snímky v sekundárních elektronech tudíž najdou bohaté uplatnění při pozorování trojrozměrných objektů, například mikrofosílií.

a) schránka rozsivky v diatomitu, b) krystal muskovitu v dutině křemene

Detektor zpět odražených lektronů (BSE, Back scattered electrons)

Pomocí detekce zpět odražených elektronů můžeme pozorovat rozdíly v relativní průměrné atomové hmotnosti studovaných fází a materiálů. V geologii tak naleznou tyto snímky široké uplatnění při studiu fázových vztahů v horninových vzorcích. Nejčastěji jsou studovány vzorky s rovným leštěným povrchem – výbrusy či nábrusy, u kterých případné povrchové nerovnosti nemohou rušit informaci o intenzitě signálu zpět odražených elektronů.

a) zonální zrno granátu ve skarnu, b) vznik ilmenitového symplektitu rozpadem titanitu v amfibolitu

Detektor katodoluminiscence (CL, Cathodoluminiscence)

Různé fáze o různém složení, které jsou vystaveny působení proudu elektronů, často vykazují katodoluminiscenci, tedy elektromagnetické záření o různých intenzitách a vlnových délkách. Charakter záření je silně ovlivněn obsahem různých prvků i stopového množství či defekty krystalové mřížky fází. V některých případech lze díky němu tudíž pozorovat jinými metodami neviditelnou zonalitu související s přítomností stopových prvků či s deformací krystalové mřížky a rekrystalizací. CL detektor v naší laboratoři je schopen detekovat intenzitu luminiscence v širokém spektru vlnových délek (180-800 nm s maximem kolem 400 nm), není však schopen rozlišovat různé vlnové délky. Uplatnění se může týkat například studia růstové zonality minerálů (zirkonu, křemene) či pozorování rekrystalizace křemene v deformovaných horninách.

a) zonální zrno zirkonu, b) zonální křemen ve vzorku skarnu