E-mail | SIS | Moodle | Helpdesk | Knihovny | cuni.cz | CIS Více

česky | english Přihlášení



EBSD

difrakce zpět odražených elektronů

Na základě difrakce zpětně odražených elektronů v krystalických materiálech je možné pomocí metody EBSD určovat jejich přednostní krystalografickou orientaci. Tato metoda je v geologii využívána zejména při studiu deformačních staveb v horninách. Laboratoř je vybavena EBSD detektorem HKL NordlysNano (výrobce Oxford Instruments) řízeným softwarem AZtec a Channel 5, nainstalovaným v létě 2013. Tento systém umožňuje bodovou analýzu v manuálním módu i tvorbu map orientací v automatickém módu.

Upozornění: Metoda EBSD je velmi náročná na kvalitu povrchu vzorku. Kromě standardního leštění diamantovou pastou vyžaduje následnou úpravu chemickým leštěním. Tuto úpravu lze s dostatečným předstihem objednat za příslušnou cenu v naší laboratoři.

EBSD

Záznam difrakce zpět odražených elektronů (tzv. Kikuchiho pásy) monokrystalu křemíku. Stereografická projekce hlavních krystalografických směrů v zrnech křemene ve vzorku ortoruly.

Akce dokumentů