15. 3. 2016

Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie jinak - unikátní technologie a metody pro výzkum nano-reality.

Ing. et Ing. Vilém Neděla, Ph.D.

(Ústav elektrotechnologie, VUT, Brno)

Environmentální rastrovací elektronová mikroskopie (EREM) je jednou z nejuniverzálnějších elektronově-mikroskopických metod. Její předností je možnost studia morfologie elektricky nevodivých, polovodivých, vlhkých až kapalných vzorků v přirozeném stavu s rozlišením v řádu milimetrů až jednotek nanometrů. Podstatnou výhodou je možnost in-situ charakterizace vzorků v podmínkách dynamicky se měnícího prostředí, pod vlivem působení různých fyzikálních či chemických vlivů, to vše v kombinaci s možností přímo měřit elektrické i neelektrické veličiny. Možná je i lokální injektáž kapalin a plynů na vzorek, integrovaná do mikromanipulátorů. Speciální nadstavbou je vysokorozlišovací transmisní rastrovací elektronová mikroskopie nano-částic v kapalinách se sub nanometrovým rozlišením, vysoce citlivá prvková mikro analýza nativních a nepokovených vzorků a v kombinaci s dalšími mikroskopickými metodami také korelativní mikroskopie.

PDF pozvánka na přednášku ke stažení.

Životopis ke stažení ZDE.